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湖南冬達(dá)儀器股份有限公司
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商品類別:PCB電性能測(cè)試設(shè)備
點(diǎn)擊次數(shù):38228
上架時(shí)間:2023年12月16日
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產(chǎn)品描述
IST( interconnection test system)互連應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)
IST( interconnection test system)互連應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng),又稱互聯(lián)應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)。是一種專門用于檢測(cè)PCB電路板內(nèi)部互聯(lián)應(yīng)力情況的設(shè)備。該系統(tǒng)通過(guò)施加電壓和電流,檢測(cè)電路板內(nèi)部的應(yīng)力分布情況,從而評(píng)估電路板的穩(wěn)定性和可靠性。
上海柏毅IST互連應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)滿足IPC-TM-650 2.6.26要求,主要特點(diǎn)有:
●可靈活選擇的測(cè)試位數(shù)
根據(jù)用戶選擇的不同配置,系統(tǒng)可提供 8,12,16等不同數(shù)量的測(cè)試位,以應(yīng)對(duì)不同批量試樣的測(cè)試。
●1個(gè)H加熱端通道和最多3個(gè)L受熱端通道
每個(gè)測(cè)試位,提供 1個(gè)H加熱端,以及最多可達(dá) 3個(gè)通道的 L受熱端,可以同時(shí)測(cè)試到更多的 D a i s y C ha in菊花鏈和互連孔。
●模塊化結(jié)構(gòu)
系統(tǒng)模塊化結(jié)構(gòu),易于擴(kuò)展,易于進(jìn)行故障定位和維修更換。
●校正功能
H加熱端以及 L受熱端的電阻測(cè)試,均可以進(jìn)行校正,以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
●分層測(cè)試模塊(選配)
系統(tǒng)可以選配分層測(cè)試模塊,檢測(cè)樣品經(jīng)過(guò)測(cè)試后是否發(fā)生分層。
●失效分析模塊(選配)
系統(tǒng)可以選配熱盤失效分析模塊,或者紅外熱像分析模塊,以方便完成測(cè)試后,用戶找到樣品測(cè)試鏈中的失效孔進(jìn)行根本原因分析。
●系統(tǒng)自我檢查
完善的各項(xiàng)系統(tǒng)自我檢查功能,用戶即可進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試和功能的自我檢查,以保障系統(tǒng)長(zhǎng)期可靠運(yùn)行。
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本文標(biāo)簽: 無(wú)錫高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱-無(wú)錫步入式環(huán)境艙-無(wú)錫老化箱廠家-湖南冬達(dá)儀器股份公司
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